模擬環(huán)境測試的技術(shù)定義
環(huán)境模擬試驗設(shè)備是模擬各類環(huán)境氣候，運輸、搬運、振動、等條件下，是企業(yè)或機構(gòu)為驗證原材料、半成品、成品質(zhì)量的一種方法。目的是通過使用各種環(huán)境試驗設(shè)備做試驗，來驗證材料和產(chǎn)品是否達到在研發(fā)、設(shè)計、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)。廣泛用于大專院校、航空、航天、軍事、造船、電工、電子、醫(yī)療、儀器儀表、石油儀表、石油化工、醫(yī)療、汽摩等領(lǐng)域。
l 環(huán)境模擬試驗箱
環(huán)境模擬試驗設(shè)備能按IEC、MIL、ISO、GB、GJB等各種標(biāo)準(zhǔn)或用戶要求進行高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽輻射、光老化等。
(1)低壓試驗：試驗適用于在飛機貨艙中空運的兵器，在高原上使用的兵器 和空運兵器在飛機受傷后發(fā)生壓力迅速下降的情形。試驗的目的是檢驗兵器在低壓環(huán)境中的使用性能以及壓力迅速下降對兵器性能的影響。模擬的最高高度可達30000m(米)，試驗時取高度相對應(yīng)的溫度值。
(2)高溫試驗：試驗中兵器處于高溫空氣中，但不受到陽光直接照射。試驗針對高溫 季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動機等熱源處儲藏或使用兵器的情形。僅當(dāng)太陽輻射試驗不能檢驗高溫效應(yīng)時才進行這項試驗。試驗的目的是檢驗在高溫環(huán)境中儲藏或使用 的性能。
(3)低溫試驗：試驗適用于在壽命周期中很可能在低溫環(huán)境中使用的試件。試驗的目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制和作戰(zhàn)。
1.       真空度：極限真空度≤5×10-5Pa，工作真空度≤1.3×10-3Pa；
2.       熱沉溫度范圍：-75℃～+150℃；
3.       制冷方式：載冷劑方式，采用熱沉和冷板；
4.       溫度均勻性：優(yōu)于±2℃；
5.       控溫精度：±1℃；
6.       升降溫平均速率：≥1℃/min (-55℃～+110℃范圍內(nèi))；
7.       溫度穩(wěn)定性：≤1℃/h；
8、  尺寸的選定，根據(jù)客戶的最終的技術(shù)要求來確定尺寸。

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